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electron microscopes (microscopes, optical instruments, ... Furnishings and Equipment (hierarchy name)) |
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Note: Microscopes in which a beam of electrons is focused by means of magnetic and electrostatic lenses onto a specimen and scattered by it to produce an image. The resolving power and the magnification of an electron microscope are much greater than can be obtained with an optical icroscope. microscope. The specimen must be examined in a vacuum, which necessitates special techniques for preparing it, and the electrons are usually focused onto a fluorescent screen (for direct viewing) or onto a photographic plate.
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| Terms: |
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| electron microscopes (preferred,C,U,English-P,D,U,PN)
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| electron microscope (C,U,LC,English,AD,U,SN)
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| microscope, electron (C,U,English,UF,U,N)
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| microscopes, electron (C,U,English,UF,U,N)
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| 電子顯微鏡 (C,U,Chinese (traditional)-P,D,U,U)
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| diàn zǐ xiǎn wéi jìng (C,U,Chinese (transliterated Hanyu Pinyin)-P,UF,U,U)
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| dian zi xian wei jing (C,U,Chinese (transliterated Pinyin without tones)-P,UF,U,U)
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| tien tzu hsien wei ching (C,U,Chinese (transliterated Wade-Giles)-P,UF,U,U)
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| elektronenmicroscopen (C,U,Dutch-P,D,U,U)
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| elektronenmicroscoop (C,U,Dutch,AD,U,U)
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| microscope électronique (C,U,French-P,AD,U,MSN)
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| Elektronenmikroskope (C,U,German,D,PN)
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| Elektronenmikroskop (C,U,German-P,AD,SN)
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| microscopios electrónicos (C,U,Spanish-P,D,U,PN)
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| microscopio electrónico (C,U,Spanish,AD,U,SN)
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Facet/Hierarchy Code: V.TH |
Hierarchical Position:
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Objects Facet |
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.... Furnishings and Equipment (hierarchy name) (G) |
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........ Tools and Equipment (hierarchy name) (G) |
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............ equipment (G) |
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................ <equipment by profession or discipline> (G) |
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.................... <equipment for science and technology> (G) |
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........................ optical instruments (G) |
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............................ microscopes (G) |
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................................ electron microscopes (G) |
Additional Notes: |
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| Chinese (traditional) ..... 以具有磁性和靜電之透鏡將電子束聚焦於樣本上、並加以擴散而形成影像的顯微鏡。電子顯微鏡的解析度和放大率，均遠勝於光學顯微鏡。因電子顯微鏡的樣本必須在真空狀態中進行檢視，以致需特殊技巧製作試片，通常將電子聚集至螢光幕上（便於直接觀察）或攝影版上。 |
| Dutch ..... Microscopen waarin een elektronenbundel met behulp van magnetische en elektrostatische lenzen wordt gericht op een specimen en daardoor wordt verstrooid, zodat een beeld ontstaat. Het oplossend vermogen en de vergroting van een elektronenmicroscoop zijn veel groter dan wat mogelijk is met een optische microscoop. Het specimen moet worden onderzocht in een vacuüm, wat speciale preparatietechnieken vereist, en de elektronen worden gewoonlijk gericht op een fluorescerend scherm (voor directe weergave) of op een fotografische plaat. |
| German ..... Mikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl durch magnetische oder elektrostatische Linsen gebündelt und auf ein Untersuchungsobjekt gerichtet wird. Die Streuung des Lichts beim Auftreffen auf den Gegenstand erzeugt ein Bild. Die Auflösung und Vergrößerung ist erheblich größer als bei einem konventionellen optischen Mikroskop. Spezielle Bedingungen und Vorrichtungen sind notwendig, da das Präparat in einem Vakuum untersucht werden muss. Die Elektronen werden in der Regel auf einen fluoreszierenden Schirm gerichtet (für die direkte Betrachtung) oder auf eine Fotoplatte. |
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Related concepts: |
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| required for .... |
electron microscopy |
| ...................... |
(microscopy, analysis and testing techniques, ... Processes and Techniques (hierarchy name)) [300224955] |
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Sources and Contributors: |
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