 |
|
|
|
|
|
|
Research Home
 Tools Art & Architecture Thesaurus Full Record Display
|
|
|
|
 |
|
|
|
 |
 |
|
|
|
|
|
|
Click the  icon to view the hierarchy. |
|
|
atomic force microscopy (microscopy, analysis and testing techniques, ... Processes and Techniques (hierarchy name)) |
|
Note: A form of very high resolution scanning probe microscopy in which a sample in solution is moved under an atomically sharp (i.e. only a few atoms wide) stylus mounted on a cantilevered spring. A detector senses deflections of the cantilever, measuring the force between stylus and surface, and transmits this information to an electronic display system.
|
| Terms: |
|
| atomic force microscopy (preferred,C,U,English-P,D,U,N)
|
| microscopy, atomic force (C,U,English,UF,U,U)
|
| AFM (C,U,English,UF,U,U)
|
| atoomkrachtmicroscopie (C,U,Dutch-P,D,U,U)
|
|
Facet/Hierarchy Code: K.KT |
Hierarchical Position:
|
|
|
Activities Facet |
|
|
.... Processes and Techniques (hierarchy name) (G) |
|
|
........ <processes and techniques by specific type> (G) |
|
|
............ analysis and testing techniques (G) |
|
|
................ microscopy (G) |
|
|
.................... atomic force microscopy (G) |
Additional Notes: |
|
| Dutch ..... Een vorm van SPM ('scanning probe microscopy') met zeer hoge resolutie, waarin een naald van atomische scherpte (dat wil zeggen met een diameter van slechts enkele atomen) die op een bladveer is gezet, over een monster in oplossing beweegt. Een detector neemt het buigen van de bladveer waar en meet de kracht tussen naald en oppervlak. Deze informatie wordt doorgegeven aan een elektronisch weergavesysteem. |
|
Sources and Contributors: |
|
|
|
